Бренды по алфавиту:
А Б В Г Д Е Ё Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
Работаем с юридическими лицами, бюджетными организациями, ИП
По вопросам приобретения товара пишите на zakaz@lanfor.ru
Оплата по безналичному расчету согласно выставленному счету
Самовывоз - бесплатно, от 300руб. до пункта выдачи в Вашем городе, доставка от 500руб. "до двери"

TMS-2400 MicroView+ – это универсальная рабочая станция для применения на производственных участках контроля топографии поверхности.

Благодаря модульности позволяет использовать индивидуальные конфигурации и конфигурации для конкретных задач. Micro.View + обеспечивает наиболее подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры и топографии микроструктуры с высоким разрешением. 5 Мп камера обеспечивает невероятно подробные визуализации данных.

Оптический профилометр TMS-2400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом с возможностью расширенного анализа на производственных участках. Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью.

Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок. С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения.

Области применения:

  • Гладкие поверхности
  • Машиностроение
  • Материаловедение
  • Энергетика
  • Криминалистика
  • Контроль лазерной гравировки
  • Микроэлектроника
  • Микромеханика
  • Оптика
  • Полупроводники
  • Потребительская электроника
  • Фотовольтика
  • Дисплеи
  • Электроника/микроэлектроника
  • Прецизионное машиностроение
  • Биология и медицина
Принцип измерения Сканирующая интерферометрия белого света (с объективами Майкельсона / Мирау)
Источник света Долговечный диод, 525 нм
Диапазон измерения (X*Y*Z), мм 200*200*100
Разрешение цифровой камеры , мегапикселей 5,0
Вертикальное разрешение не более 1нм
Пространственное разрешение столика позиционирования образцов не более 1 нм
Расстояние между точками, мкм
*- зависит от типа объектива
0,06 – 2,34*
Габариты сенсорной головки, мм 270*440*182
Габариты штатива, мм 980*548*372
Общий вес системы, кг 72,8
Формат данных топографии SUR, ASCII
Формат данных экспорта Формат данных экспорта
Наш менеджер свяжется с вами в ближайшее время